Физический энциклопедический словарь. — М.: Советская энциклопедия.Главный редактор А. М. Прохоров.1983.
- метод изучения структуры вещества, основанный на исследовании рассеяния образцом ускоренных электронов. Применяется для изучения атомной структуры кристаллов, аморфных тел и жидкостей, молекул газов и паров. Физ. основа Э.- дифракция электронов; при прохождении через вещество электроны, обладающие волновыми свойствами (см. Корпускулярно-вол-новой дуализм), взаимодействуют с атомами, в результате чего образуются дифрагированные пучки, интенсивность и расположение к-рых связаны с атомной структурой образца и др. структурными параметрами. Рассеяние электронов определяется эл.-статич. потенциалом атомов, максимумы к-рого отвечают положениям атомных ядер.
В электронографах и электронных микроскопах формируется узкий светосильный пучок ускоренных электронов. Он направляется на объект и рассеивается им, дифракц. картина (э л е к т р о н о г р а м м а) либо фотографируется, либо регистрируется электронным устройством. Осн. вариантами метода являются дифракция быстрых электронов (ускоряющее напряжение от 30-50 кВ и более) и дифракция медленных электронов (от неск. В до немногих сотен В).
Э. наряду с рентгеновским структурным анализом и нейтронографией принадлежит к дифракц. методам структурного анализа. Интенсивное взаимодействие электронов с веществом ограничивает толщину просвечиваемых ими образцов десятыми долями мкм. Электронографы для быстрых электронов работают при ускоряющих напряжениях до 200 кВ. В наиб. распространённых электронных микроскопах, к-рые могут использоваться и в режиме микродифракции, напряжение обычно составляет 200-400 кВ, а в уникальных приборах-1000-3000 кВ (соответственно возрастает до неск. мкм допустимая толщина образцов). Поэтому методами Э. изучают атомную структуру мелко-кристаллич. веществ и монокристаллов, значительно меньших размеров, чем в рентгенографии и нейтронографии.
Рис. 1. Электронограмма, полученная от текстуры.
Вид электронограмм при дифракции быстрых электронов зависит от характера исследуемых объектов. Электро-нограммы от плёнок, состоящих из кристалликов, обладающих взаимной ориентацией, или тонких монокристаллич. пластинок, образованы точками или пятнами (рефлексами) с правильным расположением, от текстур - дугами (рис. 1), от поликристаллич. образцов - равномерно зачернёнными окружностями (аналогично дебаеграммам), а при съёмке на движущуюся фотопластинку - параллельными линиями. Эти типы электронограмм получаются в результате упругого, преим. однократного, рассеяния (без обмена энергией с кристаллом). При многократном неупругом рассеянии возникают вторичные дифракц. картины от дифрагированных пучков (к и к у ч и-э л е к т р о-н о г р а м м ы; рис. 2). Электронограммы от молекул газа содержат небольшое число диффузных ореолов.
Рис. 2. Кикучи-электронограмма, полученная методом "на отражение" (симметрично расположены тёмные и светлые кикучи-линии).
В основе определения элементарной кристаллич. ячейки и симметрии кристалла лежит измерение расположения рефлексов на электронограммах. Межплоскостное расстояние d=Ll/r, где L - расстояние от образца до фотопластинки; l - длина волны де Бройля электрона, определяемая его энергией; r -расстояние от рефлекса до центр. пятна на электронограмме. Методы расчёта атомной структуры кристаллов в Э. близки к применяемым в рентг. структурном анализе. Так, ф-ла для распределения эл.-статич. потенциала f(x, у, z )аналогична ф-ле для распределения электронной плотности r(x, у, z )в рентг. структурном анализе. Расчёт значений f(x, у, z), обычно проводимый на ЭВМ, позволяет установить координаты x, у, z атомов, расстояния между ними и т. д. (рис. 3).
Методами Э. были определены мн. атомные структуры, уточнены и дополнены рентгеноструктурные данные для большого числа веществ, в т. ч. мн. цепных и циклич. углеводородов, в к-рых впервые были локализованы атомы водорода, нитридов переходных металлов (Fe, Cr, Ni, W), обширного класса оксидов Nb, V, Та с локализацией атомов N и О, а также 2- и 3-компонентных полупроводниковых соединений, глинистых минералов и слоистых структур. При помощи Э. исследуют и структуру дефектных кристаллов. В комплексе с электронной микроскопией Э. позволяет изучать фазовый состав и степень совершенства структуры тонких кристаллич. плёнок, используемых в разл. областях совр. техники. Для процессов эпи-таксии существенным является контроль степени совершенства поверхности подложки до нанесения плёнок, к-рый выполняется с помощью кикучи-электронограмм: даже незначит. нарушения её структуры приводят к размытию кикучи-линий.
Рис. 3. Электрический потенциал молекулы дикето пиперазина в кристаллической структуре, полученный трёхмерным фурье-синтезом: а и b- оси симметрии молекулы. Сгущение линий соответствует положениям атомов.
Существенное развитие получили дифракц. методы с использованием сходящегося пучка электронов, традиционно применявшиеся для установления симметрии кристаллич. вещества. Анализ двумерного распределения интенсивности в дифракц. пятне позволяет определять тройные фазовые структурные инварианты, к-рые используются в т. н. п р я м ы х м е т о д а х для определения фаз структурных амплитуд (см. Рентгеновский структурный анализ). При определ. условиях распределение интенсивности в дифракц. пятнах может быть применено для вычисления структурных факторов и их фаз. Однако полная интерпретация такой дифракц. картины на основе теории многолучевой динамич. дифракции встречает матем. трудности и требует больших вычислит. мощностей или использования приближённых методик анализа.
Методами дифракции электронов может быть осуществлено полное исследование атомного строения твёрдого тела. Основы этой т. н. электронной кристаллографии заложены учёными Москвы. Сочетание микродифракции электронов с электронной микроскопией атомного разрешения открыло принципиально новые возможности локального анализа атомного строения и исследования реальной структуры кристаллич. вещества. Фурье-преобразование данных эксперимента позволяет вычислить фазы структурных амплитуд, к-рые могут быть приписаны определяемым по дифракц. картине модулям структурных амплитуд. Зная модули структурных амплитуд и фазы, можно построить пространств. распределение потенциала в исследуемом кристалле.
На электронограммах, получаемых от молекул газов, а также паров оксидов, галогенидов и др. соединений, дифракц. пучки образуют диффузные кольцевые ореолы, диаметры и интенсивность к-рых определяются расположением атомов в молекуле и дифракц. характеристиками атомов (их атомными амплитудами упругого и неупругого рассеяния). Методы газовой Э. позволяют определять структуры молекул с числом атомов до 10-20, а также характер их тепловых колебаний в широком интервале темп-р. Аналогичным методом проводят анализ атомной структуры ближнего порядка (см. Дальний и ближний порядок )в аморфных телах, стёклах, жидкостях.
При использовании дифракции медленных электронов, к-рые вследствие малости энергии проникают лишь в самые верх. слои кристалла, получают сведения о структуре "двумерной" решётки как атомов самого кристалла у его поверхности, так и адсорбированных кристаллом атомов газов. При дифракции медленных электронов могут также происходить оже-эффект и др. явления, возникающие вследствие сильного взаимодействия медленных электронов с атомами. Применение этого метода целесообразно в сочетании с масс-спектроскопией и оже-спектроскопией. Эти исследования позволяют изучать явления адсорбции, самые начальные стадии кристаллизации и др.
Лит.: Пинскер 3. Г.. Дифракция электронов, M.-Л., 1949; Вайнштейн Б. К., Структурная электронография, M., 1956; Звягин Б. Б., Электронография и структурная кристаллография глинистых минералов, M., 1964; Современная кристаллография, т. 1, M., 1979, с. 327. 3. Г. Пинскер.
Физическая энциклопедия. В 5-ти томах. — М.: Советская энциклопедия.Главный редактор А. М. Прохоров.1988.
Смотреть больше слов в «Физической энциклопедии»
(от Электрон и ...графия метод изучения структуры вещества, основанный на рассеянии ускоренных электронов исследуемым образцом. Применяется для ... смотреть
ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ (от электрон и ...графия), метод изучения структуры вещества, основанный на рассеянии ускоренных электронов исследуемым образцом.... смотреть
метод исследования атомной структуры в-ва, гл. обр. кристаллов, основанный на дифракции электронов (см. Дифракционные методы). Существует неск. вариан... смотреть
[electron diffraction study] — метод изучения структуры вещества, основанный на рассеянии ускоренных электронов исследуемым образцом. Физическая основа электронографии — дифракция электронов (Смотри Дифракция частиц); при прохождении через вещество электроны, обладающие волновыми свойствами, взаимодействуют с атомами, в результате чего образуются отдельные дифрагированные пучки.Интенсивность и пространственное распределение этих пучков строго соответствует атомной структуре образца, размерам и ориентации отдельных кристалликов и других структурных параметров. Электронографические исследования проводятся в специальных приборах — электронографах и электронных микроскопах; в условиях вакуума в них электроны ускоряются электрическим полем, фокусируются в узкий светосильный пучок, а образования после прохождения через образующиеся пучки либо фотографируются (электронограммы), либо регистрируются фотоэлектрическим устройством. В зависимости от величины электрического напряжения, ускоряющего электроны, различ дифракцию быстрых электронов (напряжение от 30 — 50 кэВ до 1 МэВ) и дифракцию медленных электронов (напряжение от нескольких до сотен вольт). Электронографию широко применяют для изучения атомной структуры кристаллов, аморфных тел и жидкостей, молекул в газах и парах. <br> <br><br>... смотреть
— метод структурного анализа тонкодисперсных м-лов, к-лы которых проницаемы для электронов. Задачи Э.: диагностика, детальное структурное изучение м-лов, выявление их тонких отличий от др. родственных м-лов, строгое определение полиморфных модиф., характеристика нарушения упорядоченности и определение содер. тех минер. компонентов, которые доступны для дифракции электронов. Достоинством метода является: возможность исследования очень малых количеств вещества (10<sup>-5</sup> г), наблюдение дифракционной картины на экране, что позволяет выбрать наиболее интересные участки препарата, фотосъемка электронограмм с ничтожно малыми экспозициями (порядка несколько секунд). Дифракция электронов осуществляется в вакуумных приборах — электронографах и электронных микроскопах. В некоторых электронных микроскопах (ЭМ-3, ЭМ-5, ЭМ-7) имеются электронографические насадки, с помощью которых эти микроскопы могут быть использованы как электронографы. Получаемые методом Э. картины дифракции электронов называются электронограммами.<br><p class="src"><em><span itemprop="source">Геологический словарь: в 2-х томах. — М.: Недра</span>.<span itemprop="author">Под редакцией К. Н. Паффенгольца и др.</span>.<span itemprop="source-date">1978</span>.</em></p>... смотреть
1) Орфографическая запись слова: электронография2) Ударение в слове: электроногр`афия3) Деление слова на слоги (перенос слова): электронография4) Фонет... смотреть
электроногра́фия (см. электрон + ...графия) метод исследования строения веществ (структуры кристаллов, молекул и т. д.), основанный на дифракции элект... смотреть
Гекат Гаф Гарт Гарри Гарнир Гарин Гарик Гаолян Галя Галофит Гало Галкин Галифе Галит Галиот Галерник Галеркин Галеон Галенит Гален Гак Гаер Аят Аэрофор Аэрофон Аэрофлот Аэрофит Аэротенк Аэрон Аэрология Аэролог Аэролифт Аэролит Аэро Аэлит Афт Афронт Афония Афон Атрофия Атрек Атония Артрон Артрология Артролог Артерия Артериол Артек Арт Арренотокия Арония Арон Арно Арник Арлекин Арктогея Аркотрон Арк Ария Арион Арин Аретология Ареолотия Ареология Арен Арек Аргон Арго Аоот Аон Аня Анфология Анфия Антология Антикор Антик Анти Антея Ант Анри Анкерит Анкер Анк Аник Гектар Анетол Анергия Англо Англия Ангелок Ангел Гектор Аля Геликон Гелио Алоэ Алкин Алкен Алин Алик Ален Актин Гелия Актер Гелофит Ген Генка Акт Акротерия Акролеин Акрил Аконит Акно Геолотия Геофак Аил Агро Агент Геофон Агит Агния Агония Агор Агрофон Аир Аки Акие Геофит Генри Акр... смотреть
• электронография f english: electron diffraction analysis deutsch: Elektronenbeugungsuntersuchung f français: analyse f électronographique
корень - ЭЛЕКТР; соединительная гласная - О; корень - ГРАФ; окончание - ИЯ; Основа слова: ЭЛЕКТРОГРАФВычисленный способ образования слова: Сложение осн... смотреть
ж.electron diffraction, electron diffraction analysis, electron diffraction technique- высоковольтная электронография- газовая электронография- динамич... смотреть
Ударение в слове: электроногр`афияУдарение падает на букву: аБезударные гласные в слове: электроногр`афия
(отэлектрон и ...графия) - метод исследования строения в-ва, осн. на получении и регистрации дифракц. картин, возникающих при рассеянии пучка электроно... смотреть
электроногра́фия, электроногра́фии, электроногра́фии, электроногра́фий, электроногра́фии, электроногра́фиям, электроногра́фию, электроногра́фии, электроногра́фией, электроногра́фиею, электроногра́фиями, электроногра́фии, электроногра́фиях (Источник: «Полная акцентуированная парадигма по А. А. Зализняку») .... смотреть
-и, ж. Метод изучения структуры вещества, основанный на рассеянии ускоренных электронов исследуемым образцом.[От греч. ’ήλεκτρον — янтарь и γράφω — ... смотреть
электроногра'фия, электроногра'фии, электроногра'фии, электроногра'фий, электроногра'фии, электроногра'фиям, электроногра'фию, электроногра'фии, электроногра'фией, электроногра'фиею, электроногра'фиями, электроногра'фии, электроногра'фиях... смотреть
ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, метод исследования строения веществ, основанный на дифракции электронов (см. Дифракция частиц). Методом электронографии определяют атомную структуру кристаллов и аморфных тел, молекул.<br><br><br>... смотреть
ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ - метод исследования строения веществ, основанный на дифракции электронов (см. Дифракция частиц). Методом электронографии определяют атомную структуру кристаллов и аморфных тел, молекул.<br>... смотреть
ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ , метод исследования строения веществ, основанный на дифракции электронов (см. Дифракция частиц). Методом электронографии определяют атомную структуру кристаллов и аморфных тел, молекул.... смотреть
ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, метод исследования строения веществ, основанный на дифракции электронов (см. Дифракция частиц). Методом электронографии определяют атомную структуру кристаллов и аморфных тел, молекул.... смотреть
electron diffraction investigation* * *электроногра́фия ж.electron diffractometry* * *electron diffractometry
электронография [см. влектрон + ...графия] - метод исследования строения веществ (структуры кристаллов, молекул и т. д.), основанный на дифракции электронов, пронизывающих вещество. <br><br><br>... смотреть
метод исследования строения в-в, основанный на дифракции электронов (см. Дифракция частиц). Методом Э. определяют атомную структуру кристаллов и аморфн... смотреть
- метод исследования строения веществ, основанный надифракции электронов (см. Дифракция частиц). Методом электронографииопределяют атомную структуру кристаллов и аморфных тел, молекул.... смотреть
ж. diffrattometria f elettronica
(1 ж), Р., Д., Пр. электроногра/фии
электро́ногра́фия, -и
Начальная форма - Электронография, единственное число, женский род, именительный падеж, неодушевленное
analyse par diffraction électronique, diffraction électronique, diffraction des électrons
физ. електроногра́фія - газовая электронография - структурная электронография
Elektronendiffraktografie, Elektronographie
электроногр'афия, -и
электронография электроногр`афия, -и
Elektronographie
электронография
〔名词〕 电子衍射学电子射线学
электронаграфія, жен.
электронаграфiя, -фii
electron diffraction study
электронаграфiя, -фii
• elektronografie
Elektronographie
electron diffraction by amorphous solids
electron diffraction by liquids
изучение атомной структуры молекул методом электронографии (См. Электронография). Э. м. в газах и парах, а также электронография молекулярных к... смотреть
electron diffraction analysis of surface layers