Физический энциклопедический словарь. — М.: Советская энциклопедия.Главный редактор А. М. Прохоров.1983.
оптическая (от спектр и греч. metres - измеряю)- совокупность методов и теория измерений спектров эл.-магн. излученияи изучение спектральных свойств веществ и тел в оптич. диапазоне длин волн(~1 нм - 1 мм). Измерения в С. осуществляются с помощью спектральныхприборов. Осн. задачи С.: теория спектральных приборов, модельное рассмотрениеусловий измерений в типовых вариантах, разработка критериев сравнения приборов, время.
Теоретические основы спектрометрии. Оптич. сигнал u(t )вовремени t может быть представлен преобразованием Фурье в виде линейнойкомбинации гармонич. сигналов с частотами v:
где
При таком рассмотрении измерение спектра сводится к нахождению амплитуди фаз комплексной ф-ции S(v), описывающей спектр сигнала u(t). Реальныевозможности измерений связаны с рядом ограничений и альтернатив. Во-первых, интенсивность излучения, а на поток, . Во-вторых, в обычной (не лазерной) и. излучение чаще всего некогерентно, Лазер, спектроскопия). Поэтому u(t) - случайная ф-ция и, следовательно,S(v) - случайная величина. Для детерминиров. описания случайного процессаизлучения рассматривают спектр его мощности:
Именно такой спектр измеряют с помощью реальных приёмников. Обратнымпреобразованием Фурье от Ф(v) является автокорреляц. ф-ция сигнала u(t):
Ф-ции Ф(v )и связаны между собой преобразованиями Фурье:
Т. о., исходный процесс u(t )может быть описан любой из ф-цийФ(v) и ,несущих в разной форме одно и то же кол-во информации. В связи с этим возможныдва типа измерит. систем в С.
В приборах, измеряющих непосредственно спектр Ф(v), излучение направляетсяна устройство, обладающее свойством спектральной селективности [выделяетузкий интервал ], и приёмник регистрирует мощность выделенной спектральной составляющейизлучения. Полный спектр Ф(v )получается или последоват. перестройкойчастоты - сканированием (одноканальные системы), или одновременным независимымприёмом излучения от мн. интервалов (многоканальные системы).
Во втором варианте С. в процесс распространения излучения вводится переменнаявременная задержка т и измеряется автокорреляц. ф-ция .наиб. эффективно это реализуется в двухлучевом интерферометре Майкельсона сканированиемпо разности хода Изменениясигнала приёмника при таком сканировании дают интерферограмму , фурье-образ к-рой представляет собой спектр ,где - волновоечисло (,- длина волны). [Подробнее см. в ст. Фурье-спектрометр. Ниже рассматриваютсяметоды измерения Ф(v).]
Инструментальный контур. Модельные описания процессов измеренийв С. основываются на представлениях теории линейных систем. Спектральныйприбор воздействует на измеряемый спектр - входной сигнал , поэтому наблюдаемый спектр описывается в общем виде интегралом
где - аппаратная функция (АФ), или инструментальный контур, - индивидуальнаяхарактеристика измерит. прибора, зависящая от двух переменных:- физ. длины волны входящего излучения и - приборной координаты, напр. спектральной шкалы прибора, по к-рой считываетсяотклик прибора, т. е. ф-ция
Спектральные приборы чаще всего сочетают оптич. систему (формирующуюоптич. сигнал на приёмнике, преобразующем его в электрич. сигнал) с приёмно-регистрирующейсистемой, на к-рую поступает электрич. сигнал. Соответственно общая характеристикаприбора А распадается на оптическую и электрическую АФ. Рассмотримоптич. часть АФ.
Соотношение (1) позволяет указать способ определения контура . Пусть входной сигнал представляет собой монохроматич. волну ,спектр к-рой бесконечно узкая спектральная линия - дельта-функция .Тогда т. е. АФ есть отклик линейного прибора на -воздействие. л, много меньшей спектральной ширины щелей монохроматора. изображается прибором в виде контура колоколообразной формы, максимум к-рогорасполагается на делении шкалы , если шкала точна, или на ином значении ,если шкала смещена по к.-л. причинам. Ширина этого инструментального контурасоответствует эффективной спектральной ширине щелей s эф (учитывающейвклады дифракции, аберраций, разъюстировок).
Форма измеренного контура может быть различной. При сужении щелей доразмеров дифракц. уширения («нормальные» щели) контур А приближаетсяк виду . В другом крайнем случае при достаточно широких щелях контур А приближаетсяк треугольному; это объясняется тем, что контур А соответствуетизменению сигнала приёмника при сканировании изображения входной щели поперёквыходной, при этом происходит свёртка двух П-контуров, к-рая и даёт в результатетреугольный контур:. При промежуточных значениях ширин щелей треугольный контур сглаживается, А имеет ширину s эф в спектральных единицах(в шкале прибора ),но весь её контур соответствует одной физ. длине волны монохроматич. входящего излучения.
Если входящее излучение содержит ряд линий в нек-ром диапазоне длинволн и каждая из них отображается прибором в виде контуров одинаковой формы, А зависит только от разностиаргументов; обозначим её:Для такой ф-ции интеграл (1) описывает операцию свёртки:. Допущение об инвариантности является исходным в большинстве теоретич. инвариантность в рабочих режимах нередко не соблюдается, чтоприходится принимать во внимание при решении обратных задач - восстановленияистинного спектра по измеренному.
Для линейчатого спектра на входе вводится характеристика прибора, называемаяразрешением (возможность раздельного наблюдения двух близких линий равнойинтенсивности). Разрешение численно равно ширине ф-ции а, т. е. значениюs эф, т. к. при сближении двух линий до расстояния их инструментальные контуры а 1 и а 2 илисливаются в трапецеидальный контур (при треугольной форме а), илиразделяются лишь небольшим провалом (при дифракц. форме а; Рэлея критерий). Отношениедлины волны к разрешению наз. разрешающей способностью:, где .
Кроме отклика на одиночную -функциюна входе важное значение для полноты модельного описания имеет др. предельныйслучай, когда входной сигнал обладает сплошным спектром (бесконечная последовательность -функций).Тогда при фиксиров. положении всех оптич. элементов монохроматора (приостановленном сканировании) в фокальной плоскости образуется континууммонохроматич. изображений входной щели, последовательно смещённых за счётугл. дисперсии. Суперпозиция этой последовательности на выходной щели соответствуетоперации свёртки, в результате к-рой формируется выходящий поток. Контурего спектра, в отличие от АФ, наз. ф-цией пропускания (ФП). Длина волны, ,ширина контура ФП наз. выделяемым спектральным интервалом ,отношение - селективностью С.
Зная отклики прибора на два осн. вида тестовых сигналов - -функциюи сплошной фон, можно применять интеграл (1) к описанию измерений двухосн. видов спектров - излучения и поглощения (точнее - пропускания, т. представляется суперпозицией линий или полос, описываемых произведенияминек-рой пост. величины на нормированную к единице ф-цию распределения :
Одиночная полоса в силу особенностей происхождения спектров (см. Спектрыоптические )имеет контур колоколообразной формы, аппроксимируемый в первом приближении Гаусса функцией:
где - положение максимума, 6/ - ширина на полувысоте. Воздействие прибора на описывается в соответствии с (1) выражением
Здесь - контур, наблюдаемый на выходе монохроматора в ходе сканирования,- инструментальный контур, обладающий свойством инвариантности. Важно подчеркнуть, действие прибора тем больше, чем больше кривизна измеряемогоконтура, т. е. чем больше вторая производная .Поэтому в качестве количеств. характеристики искажений принимается относит. Эта погрешность пропорциональна квадрату отношения ширин контуров f и а. В гауссовом приближении ,если ,и измерения формы контуров спектров с погрешностью возможны лишь при s эф< bf/7.
В реальных приборах всегда имеет место расстояние излучения на оптич. Для каждой на входе рассматривается контур АФ, записанный во всём рабочем диапазонесканирования от начальной до конечной .В этом контуре, кроме осн. части спектральной линии шириной s эф в окрестности ,учитываются и протяжённые крылья от фона рассеянного излучения и дополнит. , т= 1, 2, 3... Совокупность таких АФ для всех элементарных компонент исследуемого сплошного спектра даёт полную картину свойств прибора в егорабочем диапазоне:.Графически эта картина представляется трёхмерной поверхностью и наз. полной аппаратной функцией (инвариантность в общем случае не предполагается).
Аналогичным образом рассматриваются ф-ции пропускания ФП для каждойдлины волны настройки Гл. части контуров ФП в окрестности определяют полезный поток на выходе:. Здесь - спектральное распределение спектральной плотности яркости источника,- ширина ФП на . Интеграл по области крыльев ФП определяет поток мешающего излучения . постороннихдлин волн. Подчеркнём, что спектр мешающего излучения определяется спектромвходящего потока и может быть существенно шире диапазона , предусмотренного конструкцией прибора. Отношение потока к полезному потокуназ. уровнем мешающего излучения: w = Р/Ф макс Эта величина являетсяважнейшей характеристикой спектральных приборов, нередко лимитирующей точностьизмерений.
Полный набор всех АФ и полный набор всех ФП несут одну и ту же информациюо приборе. В графич. представлении совокупность всех АФ и ФП образует континуумывзаимно перпендикулярных сечений одной и той же трёхмерной полной АФ.
Модельное описание с помощью ф-ций АФ и ФП, изложенное на примере монохроматоровс решётками, применяется также и к др. приборам и методам С. со спектрально-селективнойфильтрацией или модуляцией - как одноканальным, так и многоканальным (см. Спектральные приборы).
При достаточно полном устранении мешающего излучения, пренебрежимыхразмерах искажений монохроматич. изображений щели и отсутствии погрешностейв механизме сканирования можно полагать, что контуры АФ и ФП практическисовпадают, и тогда и R = С. В дальнейшем будем полагать, что эти равенства выполняются.
Приёмно-регистрирующие системы и энергетические ограничения. В рамкахоптич. С. обычно предполагается, что источники шумов не столь велики, чтобыневозможно было корректно ставить задачу измерений формы контуров полосатыхспектров (или хотя бы интегральных интенсивностей в линейчатых спектрах).Условия измерений характеризуются значениями отношения сигнала к шуму М= Ф/Ф ш [Ф - полезный поток, Ф ш - поток, эквивалентныйшуму приёмно-регистрирующих систем (ПРС)], причём в С. значения М 1,а методами с меньшим значением М решают задачи выделения сигналана фоне шумов в общей теории оптико-электронных приборов. Используемыев С. ПРС разнообразны. Применяются и фотоэлектронные приёмники с уровнемшума, зависящим от сигнала (фотонный шум), и тепловые приёмники с уровнемшума, не зависящим от потока и имеющим равномерный частотный спектр (белыйшум); и те и другие могут работать в сочетании с ЭВМ. Универсальных моделейдля всех видов ПРС нет. Рассмотрим, напр., линейную модель типа (2):
где F(t') - регистрируемый сигнал, J(t) - сигнал приёмника, h(t- t')- импульсный отклик ПРС (реакция на -импульсна входе), фурье-образ к-рого в пространстве частот,, наз. передаточной ф-цией. Если в ПРС колебания сигнала невелики и превалируетинерционное звено (напр., ДС-фильтр шумов с постоянной времени ),то имеет место простая связь сохватываемой ф-цией полосой частот , Значениями определяютсяинерционные искажения контура входного сигнала J, а значениями - уровень шумов на выходе.
Искажения контура J характеризуются инерционной погрешностью (имеющей аналогично смысл относит. снижения максимума контура). При умеренных скоростях сканирования( , где bJ- ширина J в единицах спектральной шкалы) имеет место приближённоевыражение Напр., измерения формы J контуров с погрешностью возможны лишь за время bJ/v, превышающее в 17 раз постояннуювремени .
Инерционные погрешности могут быть уменьшены построением более сложныхПРС высших порядков или переходом к шаговому сканированию с отсчётом иусреднением сигнала на каждом шаге.
Если в системе применён приёмник с плотностью среднеквадратичного белогошума в единичной полосе частот Ф П1[Вт*Гц -1/2] и этаплотность не зависит от сигнала, то приведённый ко входу уровень шумовв системе с полосой будет Общее выражение для потока, проходящего через оптич. систему, имеет вид (q- коэф. потерь, G - геометрический фактор системы). Отсюда получаетсявыражение для отношения сигнала к шуму, М=Ф/Ф Ш, и находятсяобщие энергетич. условия, определяющие диапазоны возможностей измерит.
(G' - вертикальная составляющая геом. фактора приёмника); для случаяизмерений линейчатых спектров излучения
Левая часть равенства (3) соответствует определению энергетическогофактора Q как отношения сигнал/шум при единичной полосе частот и единичном выделяемом спектральном интервале Наряду с Q пользуются также фактором качества К, значенияк-рого не зависят от выбора спектральной шкалы. Он получается из Q заменой на :
Величины Q, К характеризуют качество прибора. Чем больше . и К, тем больше могут быть возможности измерений по разрешающей способности ft, отношению сигнал/шум М и быстродействию (т. к. чем больше , тем меньше постоянная времени фильтра ,меньше инерционность и больше может быть скорость измерений). Правые частив соотношениях (3) и (4) показывают, от каких конструктивных параметровзависит качество прибора. Здесь видно, что вклад оптич. части прибора определяетсятолько двумя величинами (если она согласована с источником и приёмникомно геом. фактору) - коэф. потерь q и дифракц. пределом R диф= mNL (т - порядок спектра; N, L - частота штрихов и ширинарешётки), а вклады источника и приёмника - яркостью, плотностью шума ивеличиной G', согласованной с параметрами монохроматора: G' = hH/L, где h, Н - высоты щели и эшелотта.
Системы равного качества (в смысле Q, К )могут быть реализованыв трёх основных конструктивных направлениях:
1. Максимум R - построение приборов высокой разрешающей способности(до 106) с большими решётками, работающих медленно (Гц, постоянная времени -до десятков секунд) при небольших значениях М.
2. Максимум - построение приборов скоростной С. с устройствами быстрого сканированияи регистрации (до Гц,с)при снижении R до 30-100.
3. Максимум М (до 105 при соответствующем диапазонелинейности) - построение приборов для прецизионных измерений контуров спектровпри умеренных R и (см. Спектрофотометрия).
С помощью критериев Q или К оцениваются в С. возможностии др. типов систем. При этом могут изменяться показатели степени у или R (напр., R3 в фурье-спектрометрах )либо может оказаться нерегулируемой константой, тогда параметр переходит в правую часть соотношений (3) и (4) и т. д. Вводятся также дополнит. Оптимальные режимы, редукция. Общим свойством спектрометрич. s эф систематич. погрешности убывают пропорц. , но одновременно с такой же скоростью падает поток (сигнал) и возрастает относит. уровень шумов - случайная погрешность . При увеличении s эф, напротив, растут систематич.,но убывают случайные погрешности В благоприятных ситуациях (гладкие спектры, «мощный» прибор в смысле Q )можетсуществовать диапазон значений s эф, где обе погрешностипренебрежимы, но нередко такой диапазон отсутствует и возникает задачапоиска оптим. значения по подходящему критерию. Выбор критерия зависит от того, будет ли применятьсяредукция данных (методы решения обратных задач С.- нахождение истинногоконтура спектра по наблюдаемому).
Редукция прежде всего требует хорошего знания полной АФ прибора. Напр.,если измерения описываются свёрткой типа (2): J = f * а, то дляфурье-образов имеет место равенство , и если а известна точно, а J не содержит шумов, то редукция эффективноосуществляется делением фурье-обраяов:.Наложение шумов или неполнота знания а резко ограничивают возможности редукции.
Если результаты измерений предполагается использовать непосредственно(без редукции), то подходящим критерием оптимума является общее требованиеминимума погрешностей, что формально сводится к отысканию таких значенийрегулируемых параметров (ширин оптической и электрической АФ), при к-рыхсумма систематических (щелевой и инерционной) и случайной погрешностейминимальна. Характер взаимосвязей в оптим. режиме можно выразить следующимобразом:
Здесь точностью названа величина, обратная суммарной погрешности, аскоростью - величина , где - времярегистрации полосы шириной Ь. Существенно, что точность и скоростьнаходятся в альтернативном соотношении, показатель степени точности (4)определяет, насколько она критична, а показатели степени у параметров . и Q, от к-рых зависит константа справа, показывают, что структурностьизмеряемого спектра влияет на точность и производительность измерений сильнее, Лит.: Толмачев Ю. А., Новые спектральные приборы, Л., 1976; МирошниковМ. М., Теоретические основы оптико-электронных приборов, 2 изд., Л., 1983;М и б е р н Д ж., Обнаружение и спектрометрия слабых источников света, В. А. Никитин.
Физическая энциклопедия. В 5-ти томах. — М.: Советская энциклопедия.Главный редактор А. М. Прохоров.1988.
Смотреть больше слов в «Физической энциклопедии»
(от Спектр и ...метрия (См. …метрия) научная дисциплина, разрабатывающая теорию и методы измерений спектров. В оптическом диапазоне длин волн С.... смотреть
спектрометрия ж. 1) Раздел спектроскопии, разрабатывающий теорию и методы измерения спектров. 2) Измерение длины световых волн при помощи особых оптических приборов.<br><br><br>... смотреть
спектрометрия ж. физ.spectrometry
спектрометрия сущ., кол-во синонимов: 1 • спектроскопия (4) Словарь синонимов ASIS.В.Н. Тришин.2013. .
СПЕКТРОМЕТРИЯ (от спектр и...метрия), научная дисциплина, разрабатывающая теорию и методы измерений спектров. В оптическом диапазоне длин волн С. ... смотреть
Пик Пиетет Пие Петя Петрик Петр Петит Петиметр Петер Песя Пестряк Пестро Пестик Пест Песок Песо Пескомет Песик Пес Перт Перст Персия Персик Перси Перс Перри Перо Пермяк Периост Периметр Пери Переярок Перетрясти Переток Пересмотр Перес Перекос Перекорм Перекор Пек Оттиск Оттек Отсек Отрясти Отрепки Отрепет Отмести Отит Отек Ося Остяк Остряк Острие Остит Остерия Остер Остеит Ост Осип Осетр Осетия Ортит Орт Орск Орс Оркестр Орк Ория Орикс Орест Оптиметр Оптик Опт Омск Омет Октет Оксим Окрест Мятие Мясо Мяско Мтс Мпс Мотя Мотет Мот Мостик Мост Москит Моск Моряк Морс Мориск Морис Морея Мор Мопсик Мопс Моп Моки Моир Мкс Митя Мистер Мис Мирт Мирок Миро Мир Миот Миосепт Мио Микст Миксер Микро Мик Метро Метрия Метрит Метр Метоп Метко Метис Метеорит Метеор Метек Место Мести Мес Меря Мерс Мерея Ктор Ктитор Кси Крот Крор Крит Крис Крип Крио Крести Крест Креп Крем Котяр Котерия Кот Костя Костия Костер Кос Кортес Корт Корсет Корпия Корп Корея Коретр Коремия Копт Копия Копир Копие Копер Комс Комп Комитет Коми Ком Коир Кмет Кито Кит Кисея Кисет Кипр Кипер Киот Ким Кетмия Кермет Кермес Кепи Итр Истрепет Исток Ископ Иск Ирмос Ипс Пикет Пико Пикт Пим Пиорея Пир Ипомея Имярек Пирке Пирометр Пирс Писек Питер Поем Поиск Покер Помести Порск Порт Портер Иксор Портретик Икс Икромет Икос Ерик Еретик Емко Портрет Икт Портки Портик Импорт Импортер Импост Писк Имя... смотреть
ж.spectrometry- абсорбционная спектрометрия- атомно-абсорбционная спектрометрия- атомно-флуоресцентная спектрометрия- атомно-эмиссионная спектрометрия-... смотреть
1) Орфографическая запись слова: спектрометрия2) Ударение в слове: спектром`етр`ия3) Деление слова на слоги (перенос слова): спектрометрия4) Фонетическ... смотреть
СПЕКТРОМЕТРИЯ (англ. spectrographic analysis) — нахождение спектра сигнала. С. может выполняться либо математически, если колебательный процесс задан в виде функции или графика, либо с помощью специальной аппаратуры для частотного анализа — спектрометров или анализаторов. В последнем случае преобразованный в электрическую форму и усиленный сигнал поступает в частотные фильтры с различными полосами пропускания. Измеряя среднеквадратическое среднее или пиковое напряжение в каждом фильтре, получают спектр сигнала. В зависимости от применяемой полосы фильтров спектрометры делятся на 2 группы: с постоянной относительной шириной (напр., 1/3 октавы) и с постоянной абсолютной шириной (напр., 50 Гц на всех частотах) полосы пропускания. Спектрометры с узкой полосой пропускания называются анализаторами гармоник. Запись на самописце амплитуд напряжений в фильтрах позволяет получить графическое изображение результатов анализа. См. Спектр звуковой. Фильтр частот.<br><br><br>... смотреть
(англ. spectrographic analysis) — нахождение спектра сигнала. С. может выполняться либо математически, если колебательный процесс задан в виде функции или графика, либо с помощью специальной аппаратуры для частотного анализа — спектрометров или анализаторов. В последнем случае преобразованный в электрическую форму и усиленный сигнал поступает в частотные фильтры с различными полосами пропускания. Измеряя среднеквадратическое среднее или пиковое напряжение в каждом фильтре, получают спектр сигнала. В зависимости от применяемой полосы фильтров спектрометры делятся на 2 группы: с постоянной относительной шириной (напр., 1/3 октавы) и с постоянной абсолютной шириной (напр., 50 Гц на всех частотах) полосы пропускания. Спектрометры с узкой полосой пропускания называются анализаторами гармоник. Запись на самописце амплитуд напряжений в фильтрах позволяет получить графическое изображение результатов анализа. См. Спектр звуковой. Фильтр частот.... смотреть
(от лат. spectrum — видимое, видение и metreo — измеряю) — нахождение спектра сигнала. С. может выполняться либо математически, если колебательный процесс задан в виде функции или графика, либо с помощью специальной аппаратуры для частотного анализа — спектрометров или анализаторов. В последнем случае преобразованный в электрическую форму и усиленный сигнал поступает в частотные фильтры с различными полосами пропускания. Измеряя среднеквадратическое, среднее или пиковое напряжение в каждом фильтре, получают спектр сигнала. В зависимости от применяемой полосы фильтров спектрометры делятся на две группы: с постоянной относительной шириной (напр., 1/3 октавы) и с постоянной абсолютной шириной (напр., 50 Гц на всех частотах) полосы пропускания. Спектрометры с узкой полосой пропускания называются анализаторами гармоник. Запись на самописце амплитуд напряжений в фильтрах позволяет получить графическое изображение результатов анализа.... смотреть
корень - СПЕКТР; соединительная гласная - О; корень - МЕТР; окончание - ИЯ; Основа слова: СПЕКТРОМЕТРВычисленный способ образования слова: Сложение осн... смотреть
— в узком смысле — измерение длин волн и интенсивности спектральных линий с помощью спектрометров, микрофотометров и др. приборов. Обычно термин С. тр... смотреть
ж. spettrometria f - абсорбционная спектрометрия- спектрометрия альфа-излучения- спектрометрия бета-излучения- спектрометрия гамма-излучения- корреляц... смотреть
спектрометри́я, спектрометри́и, спектрометри́и, спектрометри́й, спектрометри́и, спектрометри́ям, спектрометри́ю, спектрометри́и, спектрометри́ей, спектрометри́ею, спектрометри́ями, спектрометри́и, спектрометри́ях (Источник: «Полная акцентуированная парадигма по А. А. Зализняку») .... смотреть
Rzeczownik спектрометрия f Fizyczny spektrometria f
спектроме/три/я, -и
Ударение в слове: спектром`етр`ияУдарение падает на буквы: е,иБезударные гласные в слове: спектром`етр`ия
сущ. жен. родабиол., мат., физ.спектрометрія
спектрометри'я, спектрометри'и, спектрометри'и, спектрометри'й, спектрометри'и, спектрометри'ям, спектрометри'ю, спектрометри'и, спектрометри'ей, спектрометри'ею, спектрометри'ями, спектрометри'и, спектрометри'ях... смотреть
(1 ж), Р., Д., Пр. спектроме/три/и
СПЕКТРОМЕТРИЯ ж. 1) Раздел спектроскопии, разрабатывающий теорию и методы измерения спектров. 2) Измерение длины световых волн при помощи особых оптических приборов.... смотреть
ж физ espe(c)trometria f
spectrometry* * *спектрометри́я ж.spectrometry* * *spectrometry
Начальная форма - Спектрометрия, слово обычно не имеет множественного числа, единственное число, женский род, именительный падеж, неодушевленное
ж. физ.espectrometría f
-и, ж. Научная дисциплина, разрабатывающая теорию и методы измерений спектров.
СПЕКТРОМЕТРИЯ спектрометрии, мн. нет, ж. (физ.). Измерение длины световых волн при помощи спектрометра.
Ж мн. нет. fiz. spektrometriya (işıq dalğaları uzunluğunun spektrometr vasitəsilə ölçülməsi).
физ. спектроме́трія - масс-спектрометрия - рентгеновская спектрометрия
спектроме́трия, -и
спектраметрыя, -рыі- спектрометрия электронная
спектром'етр'ия, -и
спектрометрия спектром`етр`ия, -и
Spektrometrie
Spektrometrie
spectrométrie
spectrometry
spectrometry
физ. спектраметрыя, жен.
光谱测定法谱测量
спектраметрыя, -рыі
• spektrometrie
Spektromeetria
spectrographie
Спектраметрыя
spectrométrie
spettrometria
Spektrometrie
спектрометрия
spectrometry
spectrometry